高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱迎來(lái)的發(fā)展空間和良好機(jī)遇 
    高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱由箱體、風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加溫系統(tǒng)和控濕系統(tǒng)組成。
    高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱溫濕度控制采用進(jìn)口韓國(guó)原裝觸摸屏儀表，控制器具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行自 動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)等功能，而且具有自動(dòng)演算的功能，可使溫濕度變化條件立即修正。高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱設(shè)備在試驗(yàn)運(yùn)行過(guò)程中突然出現(xiàn)故障時(shí)，控制儀表會(huì)出現(xiàn)對(duì)應(yīng)的故障顯示提示并有聲訊 報(bào)警提示。操作人員可以對(duì)照設(shè)備的操作使用中的故障排除一章中快速檢查出屬于哪一類(lèi)故障，即可請(qǐng)人員快速排除故障，以確保試驗(yàn)的正常進(jìn)行。
    高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱主要為電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等行業(yè)的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱構(gòu)造美觀，安全.用途廣泛，是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
    高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱觸摸按鍵、自動(dòng)警示、控溫，進(jìn)口數(shù)顯觸摸按鍵P.I.D 微電腦S.S.R溫度控制器，溫度控制采用P.I.D + S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制，具有自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為穩(wěn)定。高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱鉑金電阻溫濕度傳感器，感溫傳感器，熱平衡調(diào)溫調(diào)濕方式，溫濕度控制采用P.I.D + S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制。
    高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱具有自動(dòng)演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為穩(wěn)定，*配置，生態(tài)環(huán)保，綠色科學(xué)。為了保證高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱對(duì)降溫速率和zui低溫度的要求, 本試驗(yàn)箱的制冷系統(tǒng)采用進(jìn)口壓縮機(jī)所組成的復(fù)疊式制冷系統(tǒng)，該制冷系統(tǒng)具有匹配合理、可靠性高、使用維護(hù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
    高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱采用長(zhǎng)軸風(fēng)扇電機(jī)，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪以達(dá)強(qiáng)度對(duì)流垂直擴(kuò)散循環(huán)，門(mén)與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測(cè)試區(qū)的密閉。高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱觀察窗采用多層中空鋼化玻璃，內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜，在機(jī)器左側(cè)安裝直徑為50mm，用于外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。
    高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值，采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快，升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。